В Томском государственном университете (ТГУ) разработали математическую модель и ПО для оценки качества электроники по снимкам цифрового рентгеновского 3D-микротомографа. Телеграм-канал "МашТех" привёл подробности этого проекта.
Для обучения ИИ применили 1500 эталонных и 10 тысяч дефектных изображений материалов и элементов радиоэлектронной аппаратуры, а также цифровые двойники печатных плат, транзисторов, конденсаторов.
Программу можно легко адаптировать в систему управления качеством выпускаемой продукции на предприятиях ВПК и гражданской промышленности. В университете уверяют, что научились диагностировать качество электроники на производстве быстрее и точнее, чем аналоги из США, Китая, Тайваня и других стран.
Как сообщал Ruposters, ранее российские производители микроэлектроники попросили председателя правительства Михаила Мишустина поддержать процессорную архитектуру RISC-V.
